TEB-225PF 快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备
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快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备
快速温度变化试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高低温或湿热环境下检验其各性能项指标。
快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备快速温度变化试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高低温或湿热环境下检验其各性能项指标。
