智能制造网

微分干涉显微镜 TMM-301 DIC适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

微分干涉显微镜 TMM-301 DIC

系统简介

    本系统是将精锐的光学显微镜技术、*的光电转换技术、*的计算机（数码相机）技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。不仅可以在计算机（数码相机）显示屏上实时观察，并能对所需要的图片进行编辑、保存和打印。

技术参数

1.目镜

2.物镜

 3.DIC 观察系统：10XDIC推拉组，20XDIC推拉组

4.载物台：双层机械移动式，大小210mm*140mm  移动范围：75mm*50mm

5.目镜筒:三目镜 30° 倾斜

6.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm

7．转换器：五孔（内向式滚珠定位）

8. 偏光装置:: 起偏镜组及检偏镜组

9. 照明系统：落射照明：12V50W卤素灯，高度可调，内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器

　　　　　　　　透射照明：阿贝聚光镜  NA.1.25  ，可上下升降蓝滤色片和磨砂玻璃集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏) 12V 30W 卤素灯,亮度可调

10.微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。

11.光学系统:采用优良的防杂光系统

12.防霉系统:*的防霉系统