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镀银层X射线测厚仪:检测范围0.3-10um

XRF-2000电镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镀锌,镀银,镀锌镍等...

测量的厚度范围为0.03微米~35微米。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料。

XRF-2000镀层测厚仪三款型号

不同型号各种功能相同

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:测量样品高度不超过10cm  (长宽55cm)

XRF-2000L型:测量样品高度不超过3cm   (长宽55cm)

XRF-2000PCB型:测量样品高度不超3cm,PCB板

XRF-2000可測六层.误差大约如下:*层(5%).第二层(8%).第三层(12%).第四层(20%).第五层(25%).第六层为底材.误差视乎不同原素不同厚度有所不同。

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪测量范围.

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

韩国XRF-2000X射线镀金层测厚仪

检测电镀层厚度,可检测镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀锌,镀铬,镀钯等
可测量单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层

单镀层:如铜上镀镍,铜上镀银,铜上镀锡,铁上镀镍等,不限底材
双镀层:铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍等
多镀层:铁上镀铜镀镍镀银,铜上镀镍镀钯镀金等
合金镀层:铜上镀锌镍等

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镀锌,镀银,镀锌镍等...

仪器功能

全自动台面

自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒

镀银层X射线测厚仪:检测范围0.3-10um