VT12T-2P430 德国SICK施克,测量光栅西克结构分类
产品简介
测量光幕/测量光栅主要用于复杂的应用场合。SICK测量光幕/测量光栅产品系列丰富，包含不同的光点间距，检测高度和输出类型。可用在输送带上物体的分拣，自动化存储和自动化检索和全自动化的订单处理系统。例如在托盘测量检定应用中，托盘上物体的Z大高度和是否超限均可被检测出来，且数据可以很简便的通过总线传送PLC控制器中。
详细信息
德国SICK施克,测量光栅西克结构分类
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MLG-2 型测量光幕-光栅
更小光轴间距 5mm ;光同步对光 ;无需编程软件 ;轮廓识别功能 ;透明物检测模式 ;快三倍的高速扫描模式 ;高分辨率测量模式 ;抗阳光干扰及粉尘自适应模式
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MLG CANOpen 型测量光幕-光栅
快速的集成到系统中;集成CANOpen接口;精度可选 10 / 20 / 30 / 50 mm，且接受定制客户化的精度要求;zui大 8.5 m的工作距离;检测高度zui大可达 3 m 和zui多 240个光点;短的响应时间 < 9 ms;在复杂的应用中可以通过示教算法进行敏感度学习
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MLG Profibus 型测量光幕-光栅
德国SICK施克,测量光栅西克结构分类
非常简便的集成到系统中;集成Profibus接口;精度可选 10 / 20 / 30 / 50 mm，且接受定制客户化的精度要求;zui大 8.5 m的工作距离;检测高度zui大可达 3 m 和zui多 240个光点;短的响应时间 < 9 ms;可通过外部信号进行敏感度的自示教
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MLG模拟量输出 型测量光幕-光栅
带模拟量输出实现简单的测量;2路模拟量输出：电压和电流型;精度可选 10 / 20 / 30 / 50 mm，且接受定制客户化的精度要求;zui大 8.5 m的工作距离;检测高度zui大可达 3 m 和zui多 240个光点;短的响应时间 < 3 ms;在复杂的应用中可以通过示教算法进行敏感度学习，如半透明的物体检测;使用设置软件可以非常简便的进行客户化应用的设定;的设置演示软件让诸如高度检测，分区检测，通孔检测和存在检测这样的应用非常简便