X射线电镀测厚仪,X射线测厚仪
产品简介
XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
X射测厚仪功能,X射线测厚仪结构,X射线测厚仪型号
五金件铜上镀银测厚仪,铜上镀镍测厚仪
详细信息
韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
精度控制：
*层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内
XRF2000电镀镀层测厚仪/电镀膜厚测试仪
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：液晶显示器，彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
X射测厚仪功能,X射线测厚仪结构,X射线测厚仪型号
XRF2000镀层测厚仪(五金件铜上镀银测厚仪,铜上镀镍测厚仪)
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动对焦，操作非常方便简单