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电子产品高低温试验箱/电子产品高低温恒温箱符合标准：
GJB150.3 高温试验
GJB150.4 低温试验
GB11158 高温试验箱技术条件
GB10589 低温试验箱技术条件
GB10592-89 高低温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法
GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法
GB/T2423.22-2001 温度变化试验方法
IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法
IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法

电子产品高低温试验箱/电子产品高低温恒温箱技术参数：
产品型号：AP-GD-80B
容积(L)：80
内箱尺寸：40*50*40(W*H*D)cm
外箱尺寸：65*149*97(W*H*D)cm
温度范围：F:-20℃～+150℃
升温速率：F:RT～+150℃ 40min
降温速率：F:RT～-20℃  45min
温度波动度：±0.5℃
温度均匀度：±2.0℃
电 源：1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10%
备 注：1.以上产品外尺寸不包含突出部分，产品尺寸可按客户要求室做。
       2.以上技术参数在室温时，无负荷条件下测得的数据。RT指室温。

箱体结构：
1、内外箱体采用激光镭射加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。
2、外箱采用SUS304#拉丝不锈钢或A3冷轧钢板静电喷塑（由客户选择）。
3、内箱采用SUS#304#不锈钢制作。
4、设有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
5、箱体右侧配直径50mm电缆孔，可供外接测试电源线或信号线使用。以便通电测试。
6、保温材质采用高密度玻璃纤维棉及聚氨酯发泡，厚度为100mm。门与箱体之间采用双层耐高低温之高张性密封条，以确保测试区的密封性。
7、试验箱底部采用高品质可固定式PU活动轮及水平脚杯。

温度控制：
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；

用途：
广泛适用行业包括电子、电LED、LED背光源、LED半导体、LED光电、LED照明、LED灯柱、LED电源、LED模组、LED模块、LED显示屏、LED灯泡、LED日光灯、LED芯片、LED电视、LED显示器、电子元器件、电子产品、数码产品、通讯设备、光通信、光纤、光伏组件、太阳能组件、电器、电机、电源、电池、电容器、电阻、IC、电感、半导体、电路板、线路板、PCB、PCB板、FPC、FPC印制电路板、、电脑、手机、运动器材、锁具、建材、陶瓷、印刷、胶粘、粘合剂、油漆、油墨、化工、涂料、塑胶、塑料、橡胶、聚乙烯、PVC、PPR、PC、五金、、航天、航空、汽车配件、船舶等行业，测试产品及材料在高温、低温、高低温循环、高低温恒定等温度环境下使用时的适应能力及可靠性。