X射线测厚仪测量结构
产品简介
XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
X射线测厚仪测量结构
详细信息
X射线测厚仪测量结构
韩国Micro Pioneer XRF-2000电镀层测厚仪
检测电子电镀镀层厚度,如铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀镍镀金,铁上镀锌,铁上镀镍,镀铜,镀锡,镀铬等
X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
韩国XRF2000X荧光无损电镀测厚仪
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动对焦，操作非常方便简单
应用实例图示
（1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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（4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
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| Ni |
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| 底材 |
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（1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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（4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
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| Ni |
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| 底材 |
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X射线测厚仪测量结构
韩国先锋X荧光无损电镀测厚仪:检测电子电镀镀层厚度
XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等