WD.77-3000SM 能量色散X荧光分析仪
产品简介
详细信息
| 能量色散X荧光分析仪 | |||
| 型号 | WD.77-3000SM | ||
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| 简介 | 应用领域: 适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量进行监测； 1. 产品配置： 采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列 采用*数字脉冲采集电路及的电源管理技术 采用进口X光管 采用的* 采用USB-CAN适配器 采用精密的系统控制电路和数字处理电路 采用专有的分析算法软件模块V2.0A 真空控制系统 配备品牌电脑 配备常用的制样工具 配备的压片机 配备的测试样环 配备的测试硬标样 2. 技术指标： 分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）； 元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）； 采用美国航天技术的Si （PIN）半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术； 测量范围：1－30KeV； 管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）； 管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）； 整机功率：50W； 整机能量分辨率：150±5eV； 检测时间： <200S； 工作环境温度：温度0-40℃； 工作环境相对湿度：≤99%（不结露）； 测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单； 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短； | ||