TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)
产品简介
详细信息
TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)
TMS是一套全波长的透过率测量仪(ir透过率测量仪)，能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的相/透射率，可用于实时显示单、多点波长透过率数据及波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。紫外透过率测量仪专为检测样品紫外波段透过率设计。
紫外透过率测量仪
显微透过率测量仪基于普通透过率测量仪的测试原理，增加显微光路和成像CCD对测试区域进行精确定位，用小尺寸光斑（0.3mm）测试样品微小区域的相/透射率。除了可对玻璃、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的透过率检测之外，特别适用于手机盖板IR孔、菜单键、返回键等微小区域的透过率检测。
TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)-技术参数
| 型号 | TMS（I型） | TMS（Ⅱ型） | TMS（III型） |
| 探测器 | Sony线形CCD 阵列 | Hamamatsu背照2D-CCD | Hamamatsu背2D-CCD |
| 检测范围 | 380-1000nm (紫外:200-850nm) | 380-1100nm (紫外:200-1100nm) | 360-1100nm (紫外:225-1000nm) |
| 信噪比（全信号） | 250：1 | 450:1 | 1000：1 |
| 相对检测误差 | ﹤0.6%（410-900nm） | ＜0.4%（410-1000nm） | ﹤0.2%（410-1000nm） |
| 检出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
| 单次测量时间 | ﹤1s | ||
| CCD制冷 | 未制冷 | 未制冷 | -20℃ |
| 样品尺寸 | ≥ Φ1.5mm (显微:≥0.8nm) | ||
| 光斑 | 可调，≥ Φ0.6mm（显微≥ Φ0.3mm） | ||
| 操作系统/接口 | Windows XP, Windows | ||
| 电源/功率 | 220V-50HZ /6W | ||
TMS
透过率测量仪-的软件设计l 智能化软件操作:可自定义测量方式和角度，实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
l 谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图，批量保存测量结果，记录谱图测试积分时间，能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作，地方便了谱图的管理和分析。
l 自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。
l 谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库，可根据数据库已存标准数据对比分析结果，用户可自行对数据库进行添加、修改和删除，还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
l CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数， x，y，L,a,b,饱和度，主波长等。
l 数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图，自定义测量报告出具单位名称。