GL-SPM-D2T 光学薄膜测量仪
产品简介
详细信息
高利通生产的GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪,由高利通自主设计生产的紫外光谱仪、光学气体测量台、紫外光源和算法等组成。该GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪具有可切换双光路精密光学系统,的反射式准直光路设计可以有效避免透射式准直光路所固有的色差,使仪器具有分辨率更高,波长准确度高,重复性好和操作便捷等特点。本公司可根据客户要求,提供定制服务。
●具有良好结构设计和可切换双光路光学系统
●可完成对样品的透过率、反射率的测量
●的长光程光路设计,使仪器分辨率更高
●强大的数据处理功能,使测试结果能得到充分的应用,用户编辑更为简单快捷
●波长准确度高,重复性好
●稳定性、可靠性更强,分析更加准确
●软件控制仪器,功能完善,操作便捷和维护方便
●批量生产的工业级产品:优异的一致性、稳定性和可靠性
项目 | 指标 |
波长范围 | 190-800nm |
光谱分辨率 | FWHM0.84nm @577nm@25μm狭缝 |
杂散光 | 0.06%@532nm/0.045%@785nm |
积分时间 | 8ms-15min |
电源 | 220V/0.7A |
USB数据线 | USB |
光谱仪配置 | 自动配置包括读标定参数 |
数据输出 | 灰度值随波长或CCD像素变化 |
操作软件 | SPEC-GLA600 (高利通) |
尺寸 | 450mmx300mmx207mm |
重量 | ~6.5Kg |
工作温度 | 0-45°C |