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高利通生产的INF1000A涂层厚度测量仪利用光干涉原理实现涂层材料厚度非破坏性测试方法，即通过测量光的相位差，利用干涉原理确定两个表面之间的距离，从而计算出涂层的厚度。

在测量过程中，一束宽光谱光从空气中射入涂层表面，由于涂层的存在，光束被涂层的上下表面多次反射形成的多个光束叠加后，形成了干涉条纹。

具体来说，干涉条纹的相位差与被测物体表面涂层的厚度和折射率有关。当涂层厚度发生变化时，其不同表面的反射光的光程差发生了变化，从而导致干涉条纹相位的改变。根据干涉条纹相位的变化，可以计算出涂层厚度和折射率。

●稳定性、可靠性更强，分析更加准确

●软件控制仪器，功能完善，操作便捷和维护方便

●优异的一致性