半导体芯片冷热冲击试验箱
产品简介
详细信息
半导体芯片冷热冲击试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 模拟各种环境状态，试验各种产品及原材料耐热、耐潮湿、耐干、耐低温的性能。适用于造纸、印刷、电子、电器、金属等各行业。
半导体芯片冷热冲击试验箱的型号规格：
| 型号 | TS-80A | TS-80B | TS-80C |
| 温度范围 | 25-150℃ | 0-150℃ | -20-150℃ |
| 湿度范围 | 20%-98% R.H | ||
| 内箱尺寸 | W40×H50×D40cm | ||
| 外箱尺寸 | W100×H80×D105cm | ||
| 电源 | AC220V ；1∮ | ||
半导体芯片冷热冲击试验箱技术参数
温度上限:＋100℃/＋150℃/+200℃
温度下限:0℃、-10℃、-20℃、－30℃、－40℃、-50℃、-60℃、－70℃、－80℃
温度波动度:±0.5℃
温度均匀度:≤2.0℃
温度偏差:±2℃
湿度范围:20～98％RH
湿度偏差:＋2/－3％RH
升温时间:35min（20℃～100℃）
降温时间:25min（20℃～0℃）、40min（20℃～－20℃）60min（20℃～－40℃）、90min (20℃～ －70℃)
半导体芯片冷热冲击试验箱特 性:
体积小，使用空间大、适合实验使用。
特殊设计，机器可重迭，不占空间。
可扩充性强，BIAS，记录器（选购）。
特殊送风循环设计、温湿度分布均匀性佳。
全系统之安全保护周全及停电记忆。
具备时序接点，可配合动能及量测试验。
广东艾思荔半导体芯片冷热冲击试验箱生产厂家用事实说话，做到比说到更重要，专业值得信赖！如果在实际运用中有什么问题可以，我们将竭诚为您服务！
