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仪器仪表光学仪器旋光仪

半导体工业用红外测温仪DA44MF , 50-1400°C

供应商:
上海皇龙自动化工程有限公司
企业类型:
其他

产品简介

晶圆测温红外测温仪50~1400°C, 半导体工业用测温仪DA44MF , 50-1000°C, 100~1400°C ,3.5-4.0 μm

详细信息

 
中波低温红外测温仪
晶圆红外测温仪
半导体红外测温仪
型号:DA44MF
低价格
最小可测光斑直径:Φ1.6mm
 

主要特征:
 

主要性能:

型号 DA44MF
测温范围 50 ~1000 °C, 100~1400°C
子测温范 在测温范围内可通过RS485通信接口调节,最小跨度50°C
光谱范围 3.5~4.0 µm
光学系数 多种固定光学系数 (100, 300及800), 光圈直径 D = 15
距离系数 约50 : 1
测量误差 0.6 %测量值°C或1K 2
重复精度 0.3 % 测量值°C或0.5K 2
NETD 0.1 K 4
响应时间(t95) 5 ms, 可通过RS485通信接口调节
发射率 0.050~1.000, 可通过RS485通信接口调节
存储方式 最小值、值存储,可通过RS485通信接口调节
输出信号 0/4~20 mA, 线性温度, 负荷: 700 Ω @24 V
通信接口 RS485 (电隔离), 半双工, 波特率115 kBd, 数据协议Modbus RTU
瞄准方式 无,可选:内置LED瞄准灯或外置激光瞄准适配器
软件 Windows®PYROSOFT Spot , 可选: PYROSOFT Spot Pro
可调参数 发射率、响应时间、子测温范围,可通过RS485通信接口及软件调节
供电电源 24 V DC ± 25 %, 残留纹波500 mV
功耗 1.5 W (没有瞄准灯时)
操作温度 0~70 °C
存储温度 –20~70 °C
重量 约450 g
尺寸 螺纹M40 × 1.5, 长度 126 mm
外壳 不锈钢,带插头
防护等级 IP 65 (符合DIN EN 60529及DIN 40050)

 

 

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