PST6747A半导体测试系统
产品简介
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对于半导体器件研发人员和设计人员来说，全面、精确的了解功率器件在各种条件下的性能表现是很重要的，功率器件将最终决定电子电路的功率损耗，因此，深入了解功率器件的特征，对于开发可靠和节能产品非常关键。
PST6747A半导体测试系统是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器，为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。
PST6747A半导体测试系统能在 3kV（可扩展为 10kV）和 2200A 的条件下实现精确测量、分析功率半导体器件的静态参数。PST6747A具有快脉冲能力，以及fA电流检测能力，并具有优异的宽电压和电流测量能力。
这些功能能够对的器件（例如IGBT）和新型材料（GaN和SiC）进行测量。
PST6747A由多个独立的高精度源组成，包括P6701B（3kV高压高精度源）、P6703B（高精度源）和 P6705A（2200A大电流源）等。
每个功率源模块上配备两个独立的模数（AD）转换器，支持 2μs 采样率， 每个模块上的驱动能够独立精确控制，对有可能影响器件特性的关键计时进行精确监测。
对于测量功率器件和电源电路，该仪器更便于使用，有更好的数据分析能力，同时北京博电自主研发软件简化测量数据管理，能够依据用户的需求进行定制，为用户提供更好的使用体验。
