便携式合金成本检测仪 湖北盛德坤智能科技有限公司 不锈钢检测仪 厂家
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分析方法能量色散X荧光分析方法 测量元素范围镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量 同时检测元素数几十种元素可同时分析 处理器和内存CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储支持32G，标配2G，可以海量存储数据 含量范围ppm～99.99% 检测时间3-30秒 GPS、WIFI内置系统 检测对象固体、液体、粉末 探测器25mm2 0.3mil，SDD探测器 探测器分辨率可达139eV 激发源40KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源 视频系统高清晰摄像头 显示屏半透半反式液晶显示触摸屏，其分辨率是640*480 检出限检出限达ppm级 安全性自带密码管理员模式，数据可随意保存 可充气系统常压充氦气系统 数据传输数字多道技术，SPI数据传输，分析，高计数率 操作环境湿度≤90% 仪器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 仪器重量1.9Kg（配备电池），1.6Kg（无电池）
手持式x荧光光谱仪 产品特点 1、轻小、便携 2、无损 3、用户界面简捷、明了 4、中文操作界面（12种以上语言供选） 5、检测速度快 6、分析精度高 7、存储空间大 8、数据传输方便，快捷 9、减震、防水、抗压仪器箱手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知，只要测出荧光X射线的波长,可以知道元素的种类,这是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特息。
技术参数： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激发源： X射线管，Ag靶，40kV 检测器： SI-PIN检测器 操作系统：HP掌上电脑：Windows 5.0 Bruker 软件 冷却系统：Peltier 半导体冷却系统 电源： 交、直流供电;充电锂电池 工作条件：温度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 湿度：0～95%
手持式光谱仪如何正确使用 手持式光谱仪在使用的时候，对环境有一定的要求。不要在潮湿的环境下工作，环境湿度0-95%之间为好；不能在高温下操作工作。这样，避免各类磁场的干扰，仪器分析的时候才能检测出更高的精度。所以，大家在工作时候要注意环境适度，很多时候仪器检测不标准跟环境有很大程度上的关系。 手持式光谱仪对于操作人员有一定要求。测试样品前，一定要请仪器厂商人员现场演示，并且对技术人员做操作前的培训。因为这款仪器是检测元素，那么一定会要做放样检测，所以，技术人员还需要做好防。 对手持式光谱仪操作的技术人员，在使用仪器检测样品的时候，先要把仪器前方的圆孔对准需要检测样品的点，仪器要贴在上面，在扣动开始检测的时候，技术人员的手一定不能抖动，否则会影响到检测的数据结果。 对于检测的样品也有要求。被测的物品表面必须保持整洁，才能避免其他元素的干扰。被测物品的表面有油污，或重金属污染，检测出来的结果度没那么高。 手持式光谱仪的操作看起来很复杂，只需按照技术人员的指示一步步操作，没你想的那么复杂了。
手持式分析仪 探测器：13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源：40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间：10-200秒（可手持式或座立式测试） 检测对象：固体、液体、粉末 检测范围：硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素：多至26个元素 元素检出限：0.001%～0.01% 校正方式： 银(Ag) 性：自带模式，非人员无法使用 Data使用性：可在PDA内进行编辑，可导入PC机进行 保存打印，配备海量存储卡 电 源： 两块锂电池满电可连续工作8小时
手持式光谱仪系统误差的来源有： (1)标样和试样中的含量和化学组成不相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，需要采用化学分析方法分析多次校对结果。