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手持式x射线荧光分析仪 手持式金属光谱仪价格 规格齐全

供应商:
湖北盛德坤智能科技有限公司
企业类型:
其他

产品简介

分析方法能量色散X荧光分析方法测量元素范围镁(Mg)到铀(U)之间的元素均可测量同时检测元素数几十种元素可同时分析处理器和内存CPU:667MHz,内存:256M

详细信息

分析方法能量色散X荧光分析方法 测量元素范围镁(Mg)到铀(U)之间的元素均可测量 同时检测元素数几十种元素可同时分析 处理器和内存CPU:667MHz,内存:256M,扩展存储支持32G,标配2G,可以海量存储数据 含量范围ppm~99.99% 检测时间3-30秒 GPS、WIFI内置系统 检测对象固体、液体、粉末 探测器25mm2 0.3mil,SDD探测器 探测器分辨率可达139eV 激发源40KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源 视频系统高清晰摄像头 显示屏半透半反式液晶显示触摸屏,其分辨率是640*480 检出限检出限达ppm级 安全性自带密码管理员模式,数据可随意保存 可充气系统常压充氦气系统 数据传输数字多道技术,SPI数据传输,分析,高计数率 操作环境湿度≤90% 仪器外形尺寸234×306×82mm(L×H×W) 仪器重量1.9Kg(配备电池),1.6Kg(无电池)
手持式光谱仪产品详细资料介绍,手持式光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供手持式光谱仪报价和操作说明。按照不同的行业和测试物质,可分为手持式合金分析仪XRF5000,手持式矿石分析仪XRF7000,XRF8000,手持式土壤重金属分析仪XRF9000,手持式ROHS有害元素分析仪XRF3000。利用新一代半导体检测器提高测试速度和分析精度,手持式光谱仪的应用已经越来越广泛。
手持式分析仪 探测器:13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源:40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间:10-200秒(可手持式或座立式测试) 检测对象:固体、液体、粉末 检测范围:硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素:多至26个元素 元素检出限:0.001%~0.01% 校正方式: 银(Ag) 性:自带模式,非人员无法使用 Data使用性:可在PDA内进行编辑,可导入PC机进行 保存打印,配备海量存储卡 电 源: 两块锂电池满电可连续工作8小时

在购买便携式光谱仪的时候到底要注意哪些问题呢?
 1、稳定性:分析仪器重要的是稳定性,在每次分析前都要进标样,所以检测结果一般与真值偏差都不打,关键是同类样品是否在每次分析出来之后结果是否一致,如果忽高忽低你知道那个样品是合格的 2、分析速度:如果是扫描型的,速度要快 3、波长范围:是否能覆盖你所要检测所有元素的谱线范围 4、光学分辨率:理论上来说分辨率越高越好,当然还看你的样品情况 5、故障率:这个不用多说,故障率自然越低越好6、售后服务:机器用久了都会出现各种问题,售后服务的好坏也很重要。

手持式光谱仪器具有小巧便携、操作快捷,体积很小,便携、方便野外工作,随时随地,随心所欲的现场分析和原位分析,设备无需预热,可直接测试。 手持式xrf荧光光谱仪的特点是无损、检测.手持合金测试仪既可手持1-2秒对样品进行测试,也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试,10秒即可进行接近实验室精度的测量,整个检测过程被测样品无任何损坏。高清摄像头检测更加 内置500万高清晰摄像头,可以随时观察被测样品的测试位置。

手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器,当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子,击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知,只要测出荧光X射线的波长,可以知道元素的种类,这是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特息。
手持式光谱仪系统误差的来源有: (1)标样和试样中的含量和化学组成不相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时,测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
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