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美能PID测试系统ME-PV-PID

供应商:
苏州上器试验设备有限公司
企业类型:
其他

产品简介

长期泄漏电流会造成电池片载流子及耗尽层状态发生变化、电路中的接触电阻受到腐蚀、封装材料受到电化学腐蚀等问题,从而导致电池片功率衰减、串联电阻增大、透光率降低、脱层等影响组件长期发电量及寿命的现象。

详细信息

什么是潜在诱导退化(PID)测试?

PID测试是对制造的模块进行的质量保证测试,以预测它们在不同条件下长时间的性能。对于太阳能组件的PID测试,将组件置于85°C的温度下,湿度约为85%,并在1000v负载下持续96小时。PID测试模拟组件暴露在的次电压和温度条件下的功率损耗。

如何进行潜在诱导退化(PID)试验?

为了进行测试,在两个金属电极之间放置了一组像模块一样的太阳能电池、聚合物箔和玻璃层堆栈。在加热底部(接地)电极的同时,在模块的上部电极上施加高正电压(电压相当于PID)。

项目 内容
电源

电压范围:-2000~2000V

电压精度:0.5%FS

电压分辨率:1V

电流能力:1mA

电流传感器

测试范围:-1~1mA

测试精度:0.5%FS

分辨率:0.001mA

数据采集卡

支持RS485通讯,支持0-5V、0-10V、4-20mA信号输入

14位分辨率

20路模拟量输入

T/C软件组态,低电压电流输入

隔离电压:3000 Vdc

支持Modbus/RTU控制

DC24V供电

工控机

电源:300W

内存:4G DDR

硬盘:1T

显示器:DELL-IN1940MW

测试线

材质:硅胶

耐压等级:25KV

芯径:0.5mm²,多股铜丝

工作温度:-60-250℃

外径:5.8mm

长度:标配6m/套

温湿度传感器

温度范围:-40-120℃

精度:±1℃

湿度范围:0-99%RH

精度:±3%RH

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