三箱式冷热冲击试验箱 TSD- 80F-3P
产品简介
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及分子材料之物理性变化测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无不需要它的理想测试工具。
详细信息
三箱式冷热冲击试验箱 TSD- 80F-3P
产品介绍:
三箱式冷热冲击试验箱是来考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击实验能够了解实验样品一-次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化实验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及实验的循环次数等因素。- 般用于研究、开发至检验、生产等广泛领域。
三箱式冷热冲击试验箱 TSD- 80F-3P
性能指标:
1.产品名称:冷热冲击试验机
型号:TSD-80F-3P
2.样品限制:
本试验设备禁止:
易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验及储存
腐蚀性物质试样的试验及储存
生物试样的试验或储存
强电磁发射源试样的试验及储存
3.容积和尺寸:
3.1标称内容积(L): 150L
3.2标称内箱尺寸( mm) : W 500xH 500x D600
4.性能:
4.1测试环境条件:
环境温度: 5~35°C
相对湿度≤85%RH、循环冷却水温s30°C
循环冷却水供水压励为0.25 ~ 0.4MPa
冲击温度范围
高温区温度: +60°C~+200°C. .
低温区温度: -10°C~-70°C或-10°C~-80°C。
高温冲击温度范围: + 60°C~+ 150°C。
低温冲击温度范围: -10°C~-55°C或一10°C~-65°C
温度分布均匀度:s2.0°C
温度回复时间/转换时间:≤5min内