BC3193 半导体分立器件测试仪
产品简介
测试系统用途及主要测试对象：二极管，三极管，可控硅，场效应管，（IGBT）绝缘栅双极三极管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二极管，光敏三极管，光电耦合器，固态继电器等，DC/DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三极管开关时间测试仪
详细信息
BC3193半导体分立器件测试系统
测试对象 测试参数
二极管及整流桥 BVR、IR、VF、VZ、RZ
三极管 BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、 ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅 BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VT
场效应管 BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVDGS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、
IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS（on)、VGS、VGS（th)、 VP、VGS(off) 等
测试原理符合《GJB 128 半导体分立器件试验方法》、《GJB 33A-97 半导体分立器件总规范》《SJ/Z 9014 半导体器件 分立器件》、《SJ 2215.1-82 半导体光耦器测试方法》等相应的国家标准、国家重要部门标准。
系统的人机界面有好，编程容易，软件能对用户输入的数据进行自动查错。系统软件可进行器件参数的分档、分类编程，并可实时显示和记录分档、分类测试结果，测试结果和统计结果均可以 EXCEL 格式存贮于计算机中，根据需要可以打印输出。
系统为模块化、开放式结构，具有升级扩展潜能。
