CHY-U 高精度薄膜测厚仪
产品简介
详细信息
高精度薄膜测厚仪
高精度薄膜测厚仪
测试原理：
测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。
应用范围：
1、用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度精确测量；
2、对金属箔片、铝箔片、铜箔片等硬质材料厚度精确测量；
3、接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值；
4、通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张、纸板材料厚度测试；
技术特征：
★微电脑控制、大液晶显示
★高精度传感器，保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持 各种非标定制
★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择
★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印， 方便快捷地获取测试结果
★打印每次测量结果，方便 用户分析数据
★仪器自动保存多组测试结果，随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪手动进样，仪器可配置自动进样器进行自动测试（自动进样器选配）
★专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将 测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输（通讯软件选配）
主要参数：
测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
测量速度：10 次/分（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)（选配功能）
进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)（选配功能）
外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：18kg