highLIGHT highLIGHT 高分辨XUV / SXR 光谱仪
产品简介
详细信息
- 显著优势：
- 光谱仪特征：Flat-field grazing-incidence spectrograph；
- 灵活选择探测器：Flexible choice of detectors: x-ray CCD-camera or MCP/low-noise CMOS camera system
- 支持模块化设计匹配不同的实验场景。
- 狭缝对于信噪比的优化：狭缝的特殊支持和可变的滤波单元。
特点
l 平场掠入射光谱仪
l 波长范围：极紫外（XUV）光栅 5~90nm，软X射线（SXR）光栅1~20nm
l 探测器的灵活选择：X射线CCD摄像机或 MCP / 低噪声CMOS摄像机系统
l 工作压力<10-6mbar，可选配用于独立真空操作的无油泵系统
l 可根据用户要求定制
【产品规格参数】
SXR+光栅 | SXR 光栅 | XUV 光栅 | ||||
波长，nm | 1-5 | 1-20 | 5-90 | |||
操作模式 | 狭缝 | 无缝 | 无缝 | |||
光源距离，m | 灵活 | 灵活 | 灵活 | |||
波长，nm | 1-5 | 1-10 | 5-20 | 5-30 | 25-60 | 30-90 |
平面场尺寸，nm | 60 | 90 | 90 | 90 | 85 | 110 |
色散，nm/mm | 0.06 | 0.07-0.15 | 0.11-0.21 | 0.23-0.38 | 0.33-0.52 | 0.38-0.68 |
分辨率，nm | ＜0.001 | ＜0.005 | ＜0.008 | ＜0.015 | ＜0.021 | ＜0.026 |
* 其他配置（光谱范围，狭缝操作等等）可根据要求提供
下图用highLIGHT SXR+在2.88nm（430eV，过渡1s2-1s2p）处对nitrogen谱线进行发射光谱测量。半高全宽是CCD相机的1.74像素（13μm像素大小），分辨率为1890。受探测器限制的分辨力是3290。（数据由德国哥廷根激光实验室的K. Mann 博士提供）
