LDBIxx系列 大功率半导体激光器芯片测试设备
产品简介
详细信息
普赛斯大功率半导体激光器芯片测试设备是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案
产品应用
大功率LED的LIV测试及产线批量老化
大功率激光器的LIV测试及产线批量老化
大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的稳定性及可靠性测试
更多有关大功率半导体激光器芯片测试设备详情找普赛斯仪表专员为您解答，普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富