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Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。

ARL QUANT´ X荧光光谱仪是一个完整的配置包，配置的硬件，*的分析软件，基于数百个XRF成功应用分析案例和几十年的实践经验，为现场应用方法开发和技术支持提供了强大的支撑。

分析优势:
• 快速分析 F到U之间的元素
• 灵敏度从 <1 ppm -100%
• 多元素的测量时间10-60秒
• 多达8种的设置条件同时选择，应用于各种样品的多元素分析
• 通过 CCD 照相机显示样品影像
• 可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小
• 的电制冷Si(Li)检测器技术和数字脉冲处理器技术
• Wintrace 多元化的 XRF 应用软件，多个报告输出选项
• 高级无标样 厚度和涂层分析
• 的UniQuant 无标样分析技术
• 机械持久性，可保证长期的使用，占地面积小，机动性好
• 可以为客户定制应用并在线升级， 易于安装维护

探测器内部的-技术
作为一个有着超过40年经验的X射线探测器制造商，本公司深入了解并定义了探测器性能的关键参数。经历了4代探测器的技术创新，硅锂Si(Li)探测器成为ARL QUANT´ X 的心脏 ，提供了高灵敏度，速度和可靠性。
• 更低的晶体温度提供了更佳的分辨率
• 更厚的晶体可获得更佳的探测性能
• 大的晶体面积可获得更佳的检测下限

功能强大、易于使用的 WinTrace*软件
• 无标和半无标分析
• 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
• 多层厚度及成分
• 不限元素、不限数量的标样
• 利用自动化操作实现多个激发条件