德国菲希尔FISCHER XDV-SDD X 射线荧光镀层测厚仪
产品简介
详细信息
详细说明
XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器（SDD）。50mm²的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外，仪器还配备了各种不同的滤波片，从而能为不同的测量任务建立化的激发条件。
特点：
● 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器（SDD），能高精度地测量薄的镀层
● 极耐用的设计结构，能以极出色的长期稳定性用于连续测量
● 可编程XY平台和Z轴，用于自动化连续测量
● 拥有实时的视频显示和辅助激光点，使得样品定位变得快速而简便
应用：
镀层厚度测量
● 测量极薄镀层，如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层
● 测量汽车制造业中的硬质涂层
● 光伏产业中的镀层厚度测量
材料分析
● 电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质（如重金属）进行鉴别
● 分析黄金和其他贵金属及其合金
● 测定功能性镀层的组分，如NiP镀层中的P含量