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　　u几个不同的型号包括了从 200 至 2150 nm光谱测量范围 
　　u背向照明CCD探测器保证了的灵敏度 
　　u最短的测量时间 – 大约毫秒级 
　　uUSB或PCI界面 
　　u得益于可以自由选择的中性衰减片仪器有非常宽的强度测量范围 
　　u所有的INSTRUMENT SYSTEMS测量配件均采用光学光纤连接 
　　u适合于研发部门和生产部门的软件解决方案 
　　u完善的发光二极管，显示器件和闪烁灯的测量系统