离子减薄仪2
产品简介
详细信息
设备介绍
离子减薄仪（Precision Ion Polishing System ），为整套TEM样品制备的道工序，经氩离子减薄的样品可在TEM 下直接观察，入射角可以从10°至-10°，制样速度快，能够以最小的耗费制备出高质量的TEM样品；仪器操作方便快捷；配备了低能量离子枪功能，尤其适合对能量敏感性样品的减薄。
仪器型号
美国 GATAN Gatan691
技术参数
- 光束直径5keV 下350μm
- 离子电流密度 10mA/cm2
- 样品尺寸3mm或2.3mm
- 减薄角度+10° 到 -10°
- 离子束能量100eV 到6.0 KeV
案例展示
应用范围
离子减薄仪（Precision Ion Polishing System ），主要用于陶瓷、半导体、金属和合金等多种材料的透射电子显微镜样品的制备。