综合概述

ATX3880是一款X射线荧光侧厚仪，主要用于镀层厚度测量及组成成分的分析。

X荧光光谱技术，是由高能X射线激发原子电子层，使得原子核外电子发生跃迁，造成二次X射线能量释放，因不同的元素释放的能量具有不同特性，探测系统测量这些能量和数量，从而计算元素含量。

ATX3880为用户提供了一种操作方便，且性价比的检测技术，不会损坏被测样品，可以快速获得样件的镀层厚度和组成成分信息。同时可分析几十种以上元素，五层镀层。

ATX3880机身结构小巧结实，外形优美，使用方便，一键操作，检测速度快，分辨率高。可迅速制作样件的检验结果证书。测试数据可同步上传网络，易于查看和分享。

产品特点

l 超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

l 易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

l 有助于识别镀层成分的创新型功能

l 按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件的镀层厚度的精确结果

l 可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

l 测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享

l 有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用

应用领域

l 电镀厂

l 电子电器厂

l 钢铁厂/合金厂

l

l 汽车制造

l 检测中心

1. 仪器应用演示

1. 打开仪器上盖

2. 放入样品

3. 在软件中点击“开始”按钮，测量完成，显示分析结果。如下图

2. 测试样品示例