RX200 红外线测厚仪RX200
产品简介
详细信息
产品介绍
正反射P偏光型标准在线膜厚计!消除了引起误差的表面反射,可以正确进行测量。
如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。
并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪的硬件。
- 节省空间（在线）
因为是小型传感器头，故不受放置空间约束。只需占用现有生产线上的狭小空间。 - 瞬间测量
无需任何前处理。且可实现非破坏、非接触的瞬间测量。 - 广泛的适应性
通过由zui大6波长组成的滤光器,可以测量各种材质的膜厚及水分。 - 出众的测量精度
通过采用本公司独自的P偏光方式,即使是几μm以下的薄膜,也可得到稳定的测量结果。 - 拥有值得信赖的长期稳定性
根据周围环境和装置的变动,采用3波长测光方式确保长期性的精度。
用途例
- LCD用光学薄膜测厚
- 聚合电池的隔离板测厚
- 彩色显像管荫罩的感光乳剂测厚
- 铝箔上的乙烯涂层测厚
- 防雾加工薄膜的防雾剂涂层测厚
- 复合膜的粘合剂涂层测厚
- 收缩标签的脱胶检查等
- 钢板上的有机附着量测量
规格
| 项目 | 规格 | |
|---|---|---|
| 测量方法 | 红外线反射吸收式 | |
| 分光方式 | 旋转过滤器方式（可以实际安装6张） | |
| 测量距离 | 25mm（从本体部下面） | |
| 测量面积 | 5×8mm（椭圆） | |
| 尺寸、重量、电源 | 传感器头 | 230（W）×134（D）×90（H）、约4.5kg（不含突起部） |
| 数据处理部 | 275（W）×300（D）×165（H）、约6.7kg（不含突起部） | |
| 中继单元部 | 250（W）×140（D）×113（H）、约3kg（不含突起部） | |
| 外部输出 | 从模拟0～10v 到4～20mA进行选择（出厂时设定） | |
| 环境温度 | 0～40℃（没有结露） | |
| 电源 | AC100V±10％ 50/60Hz | |