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仪器名称

冷场发射扫描电子显微镜

仪器型号

 S 4800

生产厂家

日本Hitachi公司

技术参数

1)     高分辨率FE-SEM对下列材料进行解析时具有一定的效果

2)     对电子材料表面形状的高分辨率观察(5nm以下)

3)     对高分子复合材料的低加速电压低损伤观察

4)     对纳米材料表面／内部结构的相辅性观察

适用领域

1)     广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究

2)     在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析，                材料断口分析和失效分析

3)     各种材料的形貌组织观察；材料实时微区成分分析

4)     快速的多元素面扫描和线扫描分布测量；晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量

5)     元素定量、定性成分分析

6)     晶体、晶粒的相鉴定

检测案例

样品要求

1)     请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、                理想的照片等）

2)     样品量不少于30mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品

3)     潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通