SGW X-4B显微熔点仪 SGW X-4B显微熔点仪
产品简介
详细信息
性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
最小读数:0.1℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
配双目体视显微镜
光学放大倍数:40X-100X连续可调
性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
最小读数:0.1℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
配双目体视显微镜
光学放大倍数:40X-100X连续可调