X-4显微熔点仪
产品简介
详细信息
显微熔点仪可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等；也可用药典规定的毛细管方法测其熔点，尤其对深色样品的熔点，并能自始自终观察到其熔化的全过程。
主要技术参数
型 号 | X-4 |
显微镜 倍数 | 4倍物镜 10倍目镜 |
测量范围 | 室温∽320℃ |
测量精密度 | 室温∽200℃ 误差±1℃ 200℃∽320℃ 误差±2℃ |
电 源 | 220V /50HZ/ 80W |
显微熔点仪可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等；也可用药典规定的毛细管方法测其熔点，尤其对深色样品的熔点，并能自始自终观察到其熔化的全过程。
主要技术参数
型 号 | X-4 |
显微镜 倍数 | 4倍物镜 10倍目镜 |
测量范围 | 室温∽320℃ |
测量精密度 | 室温∽200℃ 误差±1℃ 200℃∽320℃ 误差±2℃ |
电 源 | 220V /50HZ/ 80W |