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1 本设备能连续自动测试薄膜电容的八个参数：低电平开路(C0)、10KHz(D10)直流耐压（DCTV）、交流耐压（ACTV）、绝缘电阻（IR）、100KHz损耗（D100）、1KHz损耗（D1）和容量分选（△C），并自动分档。

2 本设备采用PLC控制，触摸屏操作，速度采用变频控制器连续可调。

3 本设备采用进口分割器控制、停止测试，采用四端测量的测试方式使测试精度相对提高。

主要技术指标：

1.试验检出RT没有容量的产品自动除去。

2.SH检出：测试电压在DC1.5V时，阻值小于2KΩ判定为不良及排除

3.低电平开路：C0（TH2817A）10KHZ频率下，测量其损耗值，超过设定值为不良及排除

4.AC耐压测试：

a、6级独立AC耐压测试，在设定电压下，超过设定电流为不良及排除。设定电压为0-2KV，电流为0.1mA-1999mA。

b、此耐压测试为有产品在端子上，通过SSR控制，有电压加上，如没有产品，此端子没有电压。

5.直流耐压测试：

测试电压为DC200V-5000V，测试设定电流为1mA，10mA，如超过设定值为不良。

6.IR绝缘测试：

a、测试电压为DC50V，100V，250V，500V。

b、测定范围在1.00MΩ-199.9GΩ，低于设定值为不良。

7.100KH测试（TH2817A）：在100KHZ状态下，测试其tgδ值，超过此值为不良

8.1KHZ测试容量损耗（TH2817A）：在1KHZ状态下测试C1，C2，D2。