TDM-20台式X射线衍射仪
产品简介
详细信息
主要用于对粉末、固体和类似糊状材料进行物相分析，该设备体积小，重量轻，耗电少，能快速对样品进行校准和测试，衍射峰位置的测量精度0.001°，用于计算机控制、在Windows窗口下可直接看到数据的采集和及时处理。它利用X射线衍射原理可以对粉末样品、金属样品等多晶材料进行定性或定量分析、晶体结构分析，广泛应用于工业、农业、国防、制药、矿产、食品安全、石油、教育科研等领域。
再升级！
TDM-20除了在TDM-10的基础上加强易用性，稳定性并降低能耗以外，新型高性能阵列探测器的加载使整机性能有了飞跃式的提高。
| 高精度半导体微带探测器(阵列探测器)是由 640 个半导体微带条 组成的，相对于传统探测器，可以在较短的采样周期内获取完整 的高灵敏度、高分辨率的衍射图谱和更高的计数强度。 高精度半 导体微带探测器单通道计数动态数据范围 24 位，计数 探测器计数可达1X10^9cps；同时配合DCS控制器读出时间仅89μs。 |  一维阵列探测器  |
| 新特性 即插即用 模块化设计和标准接口技术方案 *的高频高压电源技术使整机功耗更低 高度集成的桌面冷却循环水系统，使设备性能更加可靠。 |  即插即用接口 |
冷却系统
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