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Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD辉光放电质谱仪 (GD-MS)

存在于固体样品中的几乎所有元素都可进行常规检测和定量：许多元素的含量低于十亿分率 (ppb) 水平。

µs 脉冲式高流速辉光放电池

· 采用脉冲放电模式的高灵敏度离子源

· 广泛可调的溅射速率适用于快速进行整体分析和高级深度剖析应用

· 使用二级电极进行氧化铝粉末分析

双聚焦质谱仪

· 高离子传输率和低背景使得信噪比可达亚 ppb 级检测限

· 高质量分辨率可提供的选择性和准确度：是的分析结果的先决条件

十二数量级的自动检测系统

· 在一次分析中测定基体和超痕量元素，全自动检测器涵盖 12 数量级动态线性范围

· 直接定量测定基体元素 IBR（离子束比率）

高效率和简单易用的软件包

· 所有参数均由计算机控制

· 全自动调谐、分析和数据评估

· 自动 LIMS 连接性

· 远程控制和诊断

· Windows 7

· 样品周转时间通常少于 10 分钟

· 能够在一次分析中测定基体元素到超痕量元素

· 深度剖析涵盖数百微米到一纳米的层厚度

· 最小化基体效应，便于进行直接定量

推荐用途：

航空航天：镍基高温合金、复合材料、涂层和扩散层的深度剖析

微电子学：铜、铝粉、溅射靶材

可再生能源：硅块、晶片、太阳能电池

医疗/制药/食品：不锈钢、合金

1.20Thermo Scientific™ ELEMENT XR高分辨ICPMS

在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 拥有强大的技术水平。ICP-MS 最严重的限制是对元素信号的多原子干扰。高质量数分辨率是消除这些干扰的金标准，可在痕量水平上准确可靠地进行多元素定量分析，样品制备步骤极为简便。

多元素分析

· 多元素检测器可处理瞬变信号，包括 HPLC、GC 和激光消融。

· 元素周期表中的无干扰测量涵盖基质组分（mg∙L-1）和超痕量元素（低于 1 pg∙L-1）。

· 灵敏度 ICP-MS（低分辨率时）。

灵活性和可用性

· 高质量数分辨率可获取谱干扰同位素，生成清晰的元素谱

· 对无干扰或受干扰同位素进行高精度同位素比分析。

· 热等离子体和冷等离子体状态。

ELEMENT XR ICP-MS

宽线性动态检测范围对于 ICP-MS 来说至关重要，因为其允许通过单次运行分析较宽的浓度范围。

集成式法拉第检测器的特性：

· 采样时间低至 1 ms。

· 测量高强度峰后无需衰减时间

· SEM 和法拉第之间自动切换，延迟时间为 <1 ms。

· 不同检测器模式之间的线性交叉范围较宽（>2 个数量级），允许准确进行自动交叉校正。

· 动态范围为 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。