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热流仪,超快速高低温冲击仪

供应商:
上海隽思实验仪器有限公司
企业类型:
生产厂家

产品简介

热流仪,超快速高低温冲击仪概述:超快速高低温冲击仪(也称为热流仪、冷热循环冲击测试机)适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC、光通讯(如收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验

详细信息

热流仪,超快速高低温冲击仪概述:

  超快速高低温冲击仪(也称为热流仪、冷热循环冲击测试机)适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。广泛应用于通信、半导体、芯片、传感器、微电子等领域。在短时间内检测样品因高低温冷热冲击所引起的化学变化和物理伤害,减少测试与验证时间,快速提高产品研发和生产效率。快速高低温冲击仪符合国内元件(GJB系统)测试要求、JEDEC测试要求的元件测试等标准。

热流仪,超快速高低温冲击仪特点

 1. 变温速率更快于-80℃~+225℃提供20 SCFM持续不间断之气流量于-55℃~+125℃/+125℃~-55℃温度转换速度10秒内达成;

2. 温控精度:±1℃;

3. 实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度;

4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件;

5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试;

6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。

7.主动式温度控制与可设定之温度升降斜率,可直接应用在桌上型与生产线上之温度线图、温度循环、 冷热冲击与测试。

8.活动式手臂与支架可适用在较高及难以触及的测试应用。

热流仪,超快速高低温冲击仪技术参数

温度范围:-80℃ ~225℃

温控精度: ±0.5℃~±1℃

温度转换时间: -80℃ to 150℃ 约10S,150℃ to -80℃ 约10S

外型尺寸:约80*120*185mm

电源: 50HZ/220V, 50HZ/380V

空气要求: 空气滤清器<>

空气含油量:<>

空气温湿度:5℃~32℃  0~50%RH

空气处理能力: 10m³/h~30m³/h  压力5bar~7.6bar

系统压力显示: 制冷系统压力采用指针式压力表实现(高压、低压)

循环系统压力采用压力传感器检测显示在触摸屏上

控制器:西门子PLC,模糊PID控制算法

温度控制:控制出风口温度

可编程:可编制10条程序,每条程序可编制10段步骤

通信协议:以太网接口TCP/IP协议

设备内部温度反馈: 设备出口温度、制冷系统冷凝温度、环境温度、压缩机吸气温度、冷却水温度

温度反馈:T型温度传感器

操作面板:7英寸彩色触摸屏,温度曲线显示EXCEL 数据导出

安全防护:具有自我诊断功能;相序断相保护器、冷冻机过载保护;高压压力开关,过载继电器、热保护装置等多种安全保障功能。

外接保温软管: 方便外送保温软管1.8m DN32快接卡箍

外壳材质:优冷轧板喷塑


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