HAST老化实验箱
产品简介
详细信息
HAST高压加速老化试验箱
广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了的压力蒸煮锅试验方法
HAST高压加速老化试验箱试验目的是为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验.
型 号
RK-HAST-30
RK-HAST-40
可按要求非标定做
内部尺寸W×H×D(mm)
Φ300×D500
Φ400×D550
温度控制
升温时间：常温 →+ 132℃55 min 温度范围：100℃→+132℃. (控制点)
温度波动度：±0.5℃. 温度偏差：±2.0℃.
湿度范围
75%～100 %R.H . (控制点) 湿度波动度：±2.5 %R.H.
压力范围
0.5～2㎏/㎝2 (控制点)
升压时间
常压 →+ 2㎏/㎝2 60 min.
湿度均匀度
±5.0%.
控制器
进口触摸屏微电脑彩色液晶显示触控式莹幕直接按键型,中英文表示之广视角,高对比功能可程式控制器,具30组程序记忆,每段540Hour59Min,可任意分割设定,并附多组PID控制功能.
保护装置
可调式超温保护 压力超压保护 压力超限第二重保护 温度超限报警保护 缺水保护
样品架
有承重5kg/层，10kg/层，20kg/层（箱内样品架累计总承载不超过50kg）
