TSL 高低温冲击循环试验箱，键盘冷热冲击测试箱-智能制造网

TSL 高低温冲击循环试验箱，键盘冷热冲击测试箱

供应商：: 广东宏展科技有限公司

企业类型：: 生产厂家

产品简介

高低温冲击循环试验箱，键盘冷热冲击测试箱用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的助手，规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；

详细信息

高低温冲击循环试验箱，键盘冷热冲击测试箱

用途：冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

键盘温度冲击试验方案

a) 测试方案：将装配好的整机放置在将温度冲击试验箱中：先在-40℃±2℃的低温环境下保持1 h，在1min内将温度切换到80℃±2℃的高温环境下并保持1h ，共做10个循环(20h)，样品取出后在室温下面放置2 h以上。拆开整机将拱形薄膜从PCB板上撕掉后检查Dome有无从薄膜上脱落、测试Dome及EMI层的电阻值、并测试Dome弹片的回弹曲线。

b) 通过准则：Dome没有从拱形薄膜上脱落;Dome的阻值小于 1.0 Ω(测试方法见15.3条)、EMI层的阻值小于 2.5 Ω;按键行程(Stroke)、接触力(P1)、回弹比率(Cc)符合15.4节的要求。

高低温冲击循环试验箱，键盘冷热冲击测试箱

型号

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积（升）

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

＋60～＋200℃

升温速率※1

＋60→＋200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

－78－0℃

降温速率※1

＋20→－75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

10kg

内部尺寸（mm）

500

600

750

850

400

500

600

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

1460

1560

1710

1880

1840

1940

2040

1500

1600

1700

1900

※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）

满足标准
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；
4、GJB150.5-86温度冲击试验；
5、GJB360.7-87温度冲击试验；
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估