5120A相位噪声及艾伦方差测试仪
产品简介
详细信息
产品概述：
Microchip公司（原Microsemi）的5120A相位噪声及艾伦偏差(ADEV)测试仪，采用超低噪底，准确、高速的数模转化器，无需外部校准。全数字一体化设计，一次按键便可开始测量，几秒钟后测试数据便出现在高分辨率显示屏上。
5120A采用了创新的互相关技术，交叉关联双通道的离散傅里叶变换，抵消了系统本身的噪声，更好的估算输入信号的噪声，从而获得更精确的测量结果。
5120A可选择增添内部振荡器选项（-01选项），无需外部参考源，独立完成测量。
主要特征：
²相位噪声和艾伦方差同时测量
²频率范围：1-30MHz
²业界的精度（±1.0 dB）
²艾伦方差测量超过300天
²相位噪声测量接近0.1mHz
²实时显示本底噪声
²通过网口远程管理和数据采集
²可选的内部参考振荡器
²相位噪声测量低至-175 dBc / Hz
主要优点：
²测量结果在几秒钟内显示（无需外部数据处理）
²支持不同频率的输入和参考测量
²无需测量校准（节省时间）
²性价比解决方案
²易于使用的图形用户界面
技术规格：
