表面粗糙度测试仪
产品简介
详细信息
7061表面粗糙度测试仪绍:
在保护型涂层应用中，对于表面粗糙度的测量有具体要求。
表面粗糙度仪的测量结果可以用Ra,Rz或Tp表示，这些结果包括被测表面峰顶到谷底的距离，峰顶频率评估。
7061表面粗糙度测试仪重量轻，便于携带，用于测量表面粗糙度，符合标准。
该仪器适用于不同工业领域中测量表面粗糙度，特别是当样品过大不宜在实验室中测量的情况。
•多语言显示：屏幕上显示所有信息，有14种语言可选
•灵活性: 可在任何角度测量，水平、垂直、倒置，随货提供适合各种样品符合标准的高度调节装置。
•整体式校准标准：无需外部校准标准，使用更加方便。
•驱动装置：装置可旋转也可纵向移 动，带动针尖传感器到校准位置，同时针尖传感器处于校准位置，在运输过程 可得到保护。
•带有移动保护功能的针尖传感器：2μm金刚石针尖，测量力度0.75mN,根据不同需要配置不同针尖。
如何使用？
含触针的表面粗糙测试仪，触针在表面上机械移动，记录预定义样品长度内表面粗糙度"图像"。
7061测量技术提供了大量的测量参数，包括：
Rmax: 取样长度内，zui高峰顶与zui低谷底之间的zui大距离
Ra: 取样长度内的平均粗糙度
Rt: 给定取样长度内，zui高峰顶与zui低谷底之间的距离。
Rz: 多种取样长度内，zui高峰顶与zui低谷底之间的平均距离
零件号 | 产品描述 |
K7061M001 | Elcometer 7061 MarSurf PS1 粗糙度测试仪 |
测量单位 | 公制、英制 |
测量方法 | 针尖测量方法 |
可提供针尖传感器 | 感应偏移针尖传感器, 2μm (80μin) 针尖*, 测量力度： 0.7 mN |
参数 | 24 (带公差极限): Ra, Rq, Rz equiv. to Ry (JIS), Rz (JIS), Rmax, Rp, Rp (ASME), Rpm |
测量范围 | 350μm, 180μm, 90μm (自动更改) |
表面粗糙度分辨率 | 32nm, 16nm, 8nm (自动更改) |
滤波器† | 相位配置准确的轮廓滤波器 (高斯滤波) 根据DIN EN ISO 11562标准, 特殊滤波器 |
Lc标准截止波长† | 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm; automatic (0.010”, 0.030”, 0.100”) |
导线长度Lt † | 1.75mm, 5.6mm, 17.5mm; automatic (0.069”, 0.22”, 0.69”) |
导线长度 (根据 MOTIF标准) | 1mm, 2mm, 4mm, 8mm, 12mm, 16mm (0.040”, 0.080”, 0.160”, 0.320”, 0.480”, 0.640”) |
短波截止波长† | Selectable |
评估长度† | 1.25mm, 4.0mm, 12.50mm (0.050”, 0.15”, 0.50”) |
样品长度选择† | 1 to 5 可选 |
校准功能 | 动态校准 |
记忆功能 | zui大轮廓 15 , zui多20000个结果 |
其他功能 | 设置 (加密), 日期/时间 |
电池 | Li-ion 电池 |
接口 | USB, MarConnect (RS232) |
规格 | 140mm × 50mm × 70mm (5.51” × 1.97” × 2.76”) |
重量 | 400g (0.88lbs) |
电源 | 100V to 264V |
包装清单 | Elcometer 7061 MarSurf PS1底座， 驱动装置，1 x 标准针尖传感器, 内置电池, |