Helios DualBeam™扫描电子显微镜
产品简介
一直以来，Helios NanoLab 都综合采用了 FEI 的佳电子和离子光学系统、配件和软件，能够为纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家，Helios NanoLab 能让他们拓展研究边界，为材料研究开辟新的天地。
借助价值的亚纳米 SEM 成像技术、S/TEM 超薄样本制备能力以及的原型设
详细信息
Helios NanoLab 的材料科学应用
在材料科学领域，研究人员面临的挑战是持续改善目前制造的材料和设备的质量。为了实现技术进步，在纳米量级了解结构和成分细节至关重要。Helios NanoLab 设计用来以低至亚纳米量级的分辨率提供多尺度、度洞察，让研究人员能够观测样本微小的细节。Helios NanoLab 还可为原子分辨率 S/TEM 成像迅速制备质量的样本。此外，如果研究工作包括开发 MEMS 或 NEMS 器件，也可配备 Helios NanoLab 打造全功能原型。
Helios DualBeam™扫描电子显微镜
Helios NanoLab 是一款极其灵活的平台，既能以*的效率制备 TEM 样本，又能开展高性能低电压成像以分析高级逻辑和存储器件。Helios Nanolab 具有大型和小型样本室两个配置，效率*，并且是面向实验室和近生产环境的低每样本成本半导体分析工作流的关键组成部分。
Helios NanoLab 的自然资源应用
地质学家和矿藏工程师可以使用 Helios NanoLab 技术对钻屑和微芯开展二维和三维岩石表征。它利用的 DualBeam 技术*特色，博采 FIB（聚焦离子束）铣削和 SEM（扫描电子显微镜）分析之长。借助自动化序列样本铣削和成像功能，客户可以创建二维序列图像，进而开展三维容积重建。根据这些数据，客户可以在微米至纳米量级别观测和量化孔隙网络等纹理。
Helios DualBeam™扫描电子显微镜
要想在三维背景下了解生物事件，就必须采用的成像解决方案，而且这些成像解决方案应能以*的分辨率呈现极小的细节，从而揭示出复杂网络的超微结构和空间结构。Helios NanoLab 具有的 SEM 性能和可靠、精确的 FIB 切片能力，还配备了高精度压电工作台，堪称小型 DualBeam 平台的之选。出色的成像能力，辅以透镜内和柱内检测器提供的高对比度检测技术，能够实现真正的对比度。