XQ15-GI 激光平面干涉仪XQ15-GI
产品简介
检测平面平晶平整度*仪器，高精度
详细信息
产品简介：
1、防震性能好、有*的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品，大容量的
2、工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。
XQ15-GI 激光平面干涉仪
技术参数：
1、第1标准平面（A面），工作直径D1=φ146mm，平面的面形偏差小于0.03μm（λ/20）
2、第二标准平面（B面），工作直径D2=φ140mm，平面的面形偏差小于0.03μm（λ/20）
3、准直系统：工作直径φ146mm，孔径F/2.8，焦距f=400mm
4、测微目镜：焦距f=16.7mm；
5、视场角：2W=40?；放大倍数β=15X
6、成像物镜：D=7，F=16
7、光源规格：ZN18（He-Ne）
8、干涉室尺：φ480*380*285mm
可选配摄像装置
XQ15-GI 激光平面干涉仪
技术参数：
1、第1标准平面（A面），工作直径D1=φ146mm，平面的面形偏差小于0.03μm（λ/20）
2、第二标准平面（B面），工作直径D2=φ140mm，平面的面形偏差小于0.03μm（λ/20）
3、准直系统：工作直径φ146mm，孔径F/2.8，焦距f=400mm
4、测微目镜：焦距f=16.7mm；
5、视场角：2W=40?；放大倍数β=15X
6、成像物镜：D=7，F=16
7、光源规格：ZN18（He-Ne）
8、干涉室尺：φ480*380*285mm
可选配摄像装置